Статью новочеркасских ученых опубликовали в международном научном журнале

Научную статью ученых ЮРГПУ из Новочеркасска в сотрудничестве с ведущими научными центрами России опубликовали в престижном научном журнале Journal of Applied Crystallography («Журнал прикладной кристаллографии»).

Статья «High-resolution X-ray Bragg diffraction in Al thermomigrated Si channels» («Рентгеновская брэгговская дифракция высокого разрешения в термомигрированных алюминиевых каналах кремния») написана заведующим кафедрой «Физика и фотоника» ЮРГПУ Борисом Серединым в соавторстве с учеными из Москвы и Сыктывкара. В статье описаны результаты инструментальных рентгеновских исследований полупроводниковых структур, созданных в ЮРГПУ благодаря уникальной технологии управляемой термомиграции системы локальных зон. Авторы публикации пришли к выводу, что усовершенствование методики брегговской дифракции позволит существенно улучшить качество электронных приборов.

Фото: ЮРГПУ